مقالات
میکروسکوپ نیروی اتمی ابزاری قدرتمند در بررسی و مطالعه ی گستره ی متنوعی از مواد در مقیاس نانو است. به کمک این میکروسکوپ، بررسی ویژگی های ساختاری و فیزیکی مواد نظیر زبری، سختی، توپوگرافی و اندازه ی ذرات میسر است. همچنین این دستگاه قابلیت ایجاد تغییر و جابه جایی ذرات و سطوح را دارا است.

با اختراع میکروسکوپ نیروی اتمی، امکان تهیه ی تصویر و بررسی نمونه های گوناگون به ویژه نمونه های عایق و زیستی به وجود آمده است. این دستگاه با برخورداری از مزایای تهیه ی تصویر با توان تفکیک بالا، به کارگیری آسان، عدم نیاز به آماده سازی پیچیده ی نمونه، تهیه ی تصاویر سه بعدی و امکان بررسی توپوگرافی سطح به صورت ابزاری قابل قبول در حوزه های مختلف علوم و فناوری نانو درآمده و کاربردهای بسیار گسترده ای یافته است. این دستگاه بسته به مدل آن، قابلیت انجام آزمایش در شرایط خلاء محیط و مایع را داراست.

 

این مقاله در شماره 20 «فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران»، زمستان 1396 منتشر شده است. 
جهت دریافت نسخه کامل مقاله فایل پیوست را دریافت کنید.

ارسال نظر

پاسخ به نظــر بازگشت به حالت عادی ثبت نظر

نـــام
ایمیل
نظر شما
کارکترهایی که در تصویر می بینید را وارد نمایید. (حساس به حروف کوچک و بزرگ)