میکروسکوپ نیروی اتمی هدایتی و بررسی مورفولوژی و خواص الکتریکی سطح

امروزه روش میکروسکوپ نیروی اتمی هدایت نوری (PC-AFM)، روشی شناخته شده، مؤثر و کاربردی برای مطالعه همزمان مورفولوژی مواد در مقیاس نانو، بررسی خواص سطح و ابزاری مناسب برای به تصویر کشیدن ارتباط بین چگونگی عملکرد، خواص و ساختار است.

این روش همانند دیگر روش‎های میکروسکوپی نیروی اتمی دستگاهوری ویژه‎ای دارد. استفاده از یک منبع تابش و یک میکروسکوپ معکوس شده، این روش را از سایر روش‎های میکروسکوپی پروبی روبشی متمایز نموده است.

روش میکروسکوپی نیروی اتمی هدایت نوری در بررسی نقل و انتقالات حفره - الکترون در سلول‎های فتوولتاییک و سلول‌های خورشیدی آلی استفاده می‌شود. البته این روش، نو و نیازمند تحقیق و توسعه بیشتر است.