- صفحه اصلی
- آزمایشگاه ها
- مجموعه آزمایشگاه ها مرکز تحقیقات علوم و مهندسی مواد
جستجو در آزمایشگاه ها
مجموعه آزمایشگاه ها مرکز تحقیقات علوم و مهندسی مواد
سال تاسیس : ۱۳۹۷
- وضعیت عضویت : فعال
- قم قم ,
- مدیر آزمایشگاه : محمد یزدی
- رابط آزمایشگاه : محمد یزدی
- تلفن : ۳۳۳۴۱۰۵۲-۰۲۵
- نمابر : ۳۳۳۴۱۰۵۱-۰۲۵
- www.irncm.ir
- info@irncm.ir
سازمان مرتبط :
شرکت ها
مرکز تحقیقات علوم و مهندسی مواد
زمینه های تخصصی :
مهندسی و علم موادنشانی آزمایشگاه :
قم-صندوق پستی 1135-37195
نشانی دفتر :
تهران، انتهای خیابان کارگر شمالی
حوزه فناوری مرتبط :
تجهیزات آزمایشگاه
خدمات آزمایشگاه
-
دستگاه آزمون خواص مکانیکی عمومی
(UTM) -
دستگاه آزمون خواص مکانیکی عمومی
(UTM) -
دستگاه سختی سنج عمومی
-
دستگاه سنجشگر حرارتی هم زمان
(STA) -
دستگاه طیف سنج پراش پرتو ایکس
(XRD ) -
دستگاه طیف سنج مادون قرمز تبدیل فوریه
(FTIR ) -
دستگاه میکروسختی سنج ویکرز
-
دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی
(SEM) -
دستگاه میکروسکوپ الکترونی عبوری
(TEM )
-
آزمون سختی سنجی فلزات بر اساس روش ویکرز Vickers
-
آزمون سختی سنجی فلزات بر اساس روش برینل Brinell
-
آنالیز تعیین مشخصات نانو لوله های کربنی تک جداره با استفاده از میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)
-
اندازه گیری ضخامت پوشش فلزی به روش سطح مقطع با میکروسکوپ الکترونی SEM
-
آزمون کشش Tensile
-
آزمون غیرمخرب پراش پرتو ایکس XRD برای مواد پلی کریستالی و مواد آمورف
-
آنالیز تعیین مشخصات ذرات شامل اندازه، تعداد، مورفولوژی، توزیع اندازه برای مواد جامد و پودری به روش میکروسکوپی الکترونی روبشی SEM
-
آزمون کشش در دمای بالا (گرم) Tensile
-
آزمون شناسایی پیگمنت ها و افزودنی های کریستالی در رنگ توسط XRD
-
آزمون طبقه بندی آخال ها در فولاد با استفاده از SEM
-
آنالیز تعیین کریستالینیتی نسبی زئولیت ZSM-5 بوسیله پراکنش اشعه ایکس XRD
-
آنالیز تعیین کریستالینیتی نسبی زئولیت سدیم A بوسیله پراکنش اشعه ایکس XRD
-
آزمون میکروسختی به روش میکرو ویکرز
-
آماده سازی نمونه های پودری برای تصویربرداری میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM
-
آماده سازی نمونه های سوسپانسیونی برای تصویربرداری میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM
-
آنالیز الگوی پراش با استفاده از XRD
-
آنالیز تعیین اندازه دانه (کریستالیت) نانومتری در شرایط خاص با استفاده از روش دبای شرر با استفاده از XRD
-
آنالیز تعیین اندازه دانه (کریستالیت) و میکرو کرنش مواد نانو با استفاده از روش ویلیامسون هال با استفاده از XRD
-
آنالیز تعیین آمورف یا کریستاله بودن ترکیبات مختلف با استفاده از XRD
-
آنالیز تعیین درصد فازی به صورت نیمه کمی با استفاده از XRD
-
آنالیز تهیه طیف ATR و تعیین ساختار مواد به روش طیفسنجی مادون قرمز تبدیل فوریه FTIR
-
آنالیز ساختار بلوری با استفاده از XRD
-
آنالیز شناسایی انواع سیمان با استفاده از XRD
-
آنالیز شناسایی پایه پلاستیکها با روش طیفسنجی مادون قرمز تبدیل فوریه (FT-IR)
-
آنالیز شناسایی فاز یا هر نوع کانی در سنگ، خاک، مواد معدنی و ... با استفاده از XRD
-
آنالیز شناسایی کامل پلاستیکها با روش طیفسنجی مادون قرمز تبدیل فوریه (FT-IR)
-
آنالیز شناسایی و تعیین ساختار ترکیبات پلیمری با روش طیفسنجی مادون قرمز تبدیل فوریه (FT-IR)
-
آنالیز شناسایی نمونههای ناشناخته با استفاده از XRD
-
آنالیز کمی و کیفی ترکیبات الی و معدنی با روش طیفسنجی مادون قرمز تبدیل فوریه (FT-IR)
-
آنالیز کمي پودرهاي چند ترکيبه با استفاده از XRD
-
آنالیز محاسبه درصد کریستالینیتی با استفاده از XRD
-
آنالیز مطالعه و بررسی انواع کانی ها با استفاده از XRD
-
آنالیز مواد و ترکیبات به روش کروماتوگرافی گازی طیف سنجی جرمی GC-MS
-
آنالیز و تهیه طیف (اسکن نرمال) و محاسبه مساحت زیر منحنی با استفاده از XRD
-
آنالیز و شناسایی انواع زئولیت ها با استفاده از XRD
-
آنالیز و شناسایی انواع مواد نسوز با استفاده از XRD
-
آنالیز یکنواختی توزیع عناصر متشکله فولاد و سلامت ساختاری با میکروسکوپ الکترونیSEM
-
آنالیز و تفسیر تفکیک کانی های رسی (Clay fraction) و یا نمونه کل (Bulk) با XRD
-
تصویر برداری و تعیین ساختار مورفولوژی سطح نمونه (نانومتری) با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM به همراه تجزیه و تحلیل ساختاری یا خصوصیات شیمیایی به روش طیف سنجی پراش انرژی پرتو ایکس EDS
-
تصویر برداری و تعیین ساختار مورفولوژی سطح نمونه (نانومتری یا میکرومتری) با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM
-
تصویر برداری و تعیین ساختار مورفولوژی، اندازه ذرات (نانومتری) با میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM
-
تهیه طیف و تعیین اندیس های میلر، ... با استفاده از XRD
-
آزمون کشش با نرخ کرنش آهسته
-
شناسایی مخلوط حلال های شیمیایی و گازها توسط FTIR و GC-MS
-
آنالیز تعیین اندازه دانه (کریستالیت) و میکرو کرنش مواد نانو به روش ریتولد با استفاده از XRD
-
آنالیز تعیین درصد فازی به صورت نیمه کمی به روش ریتولد با استفاده از XRD
-
آنالیز تعیین آمورف یا کریستاله بودن ترکیبات مختلف به روش ریتولد با استفاده از XRD
-
آزمون سختی سنجی ویکرز Vickers
-
آنالیز کامل نمونه با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM
-
آنالیز یک تا سه عنصر در یک نمونه با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM
-
آنالیز فازها و موارد خاص در کلیه نمونه ها با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM
-
آنالیز تعیین جنس پوشش با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM
-
خدمات لایه نشانی پوشش طلا بر سطح مواد و قطعات جهت بررسی با SEM
-
تصویربرداری و تعیین خصوصیات ریز ساختاری نانوذرات و مواد بیولوژیکی با میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM
-
آزمون سختی سنجی به روش های برینل، ویکرز، راکول (سه نقطه)
-
تصویربرداری از نمونه های دندانی ( ریشه، کانال، عاج، مینا و ....) از برش های مقطعی و عرضی دندان با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM
-
تصویر برداری از سطح پوشش و بررسی تخلخل، حفره ها یا یکنواختی پوشش با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM
-
تصویربرداری از الیاف الکتروریسی با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM
-
تصویر برداری از انواع کانی های رسی با میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM
-
اندازه گیری تنش پسماند در نمونه های پوشش
-
متالوگرافی همراه با اچ کردن
-
آنالیز ریتفیلد برای هر فاز توسط XRD
-
آماده سازی اولیه نمونه شامل چسب دوطرفه هادی، چسب نقره توسط SEM
-
نمونه سازی سطح مقطع پلیمر توسط نیتروژن مایع جهت مشاهده سطوح شکست توسط SEM
-
ویرایش و تحلیل تصاویر میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM
-
اندازه گیری آنالیت ها با دستگاه GC-MS
-
تصویربرداری نمونه های بیولوژیکی شامل بررسی ساختار و مورفولوژی (پروتئین, باکتریوفاز, اگزوزوم و لیپوزوم, باکتری, سلول...) با میکروسکپ الکترونی عبوری (TEM)
-
آنالیز کیفی مواد و ترکیبات آلی با کروماتوگراف گازی طیف سنج جرمی GC-MS
-
آزمون های تعیین مقاومت فشاری، کششی و خمشی با استفاده از دستگاه کشش یونیورسال (UTM)
-
آنالیز اسانس ها با کروماتوگراف گازی GC
-
تصویربرداری از نمونه های فلزی (آلومینیوم، مس و نیکل) با میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM
-
آزمون تهیه الگوی پراش نمونه های فلزی (آلومینیوم، مس و نیکل) با میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM
-
آنالیز تهیه الگوی پراش نمونه پودری با میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM
-
آنالیز کیفی ترکیبات آلی و معدنی با روش طیفسنجی مادون قرمز تبدیل فوریه (FT-IR) با استفاده از ماژول ATR (بازتابش کلی تضعیف شده )
-
تصویربرداری نمونه های فلزی با میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM
-
آنالیز تهیه الگوی پراش نمونه های فلزی با میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM
-
آنالیز تهیه الگوی پراش نمونه های پودری با میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM