طیف سنج فوتوالکترون پرتو ایکس دانشگاه صنعتی شریف - مرکز خدمات آزمایشگاهی

نام انگلیسی :

آخرین وضعیت دستگاه :

محدودیت های دستگاه :

با توجه به نیاز این آزمایش به خلا 10- میلی بار و محدودیت تعداد نمونه حداکثر تعداد نمونه گرفته شده در هقته 10 عدد است

توضیحات :

یکی از آنالیزهایی که براساس برهمکنش بین پرتوی ایکس و نمونه شکل گرفته است، آنالیز XPS می‌باشد. XPS یک آنالیز قدرتمند برای ارزیابی سطح نمونه به شمار می‌رود که اولین بار در سال 1887 توسط هرتز و بر مبنای اثر فوتوالکتریک بنا شد و از سال 1960 توسط دانشمندانی مانند Siegbahn رشد مضاعف یافت. آنالیز XPS، در حقیقت یک تکنیک کمی ـ طیفی است که در آن نوع عناصر و ترکیب شیمیایی عناصر موجود در سطح نمونه قابل‌استخراج است. مهم‌ترین کاربردهای این آزمایش را می‌توان به شرح ذیل بیان نمود: 1- شناسایی عناصر (همه عناصر به جز هیدروژن و هلیوم با این روش قابل شناسایی می‌باشند) 2- تعیین ترکیب عناصر سطح (معمولاً در فاصله 10-1 نانومتر از سطح) با دانستن انرژی قیدی، شکل پیک و اندازه گیری پارامتر اوژه می‌توان ترکیب شیمیایی عناصر را شناخت. 3- تعیین عناصر آلوده‌کننده سطح 4- تعیین یکنواختی ترکیب 5- ضخامت یک تک‌لایه و یا ماده چند لایه‌ای 6- پروفایل عمقی براساس مسیر فرودی پرتو ایکس. می‌توان پروفایل عمقی سطح نمونه را نیز ارزیابی نمود. این آنالیز برای ترکیبات غیرآلی، آلیاژهای فلزی، نیم‌رساناها، پلیمرها، شیشه‌ها، سرامیک و حتی در صنعت کاغذ، چوب و صنعت بنزین استفاده می‌شود.