در این شماره، گزارشی از نشست مدیران مراکز عضو شبکه آزمایشگاهی فناوریهای راهبردی که آبان ماه سال جاری به میزبانی دانشگاه علم و صنعت ایران برگزار شد، منتشر شده و به همراه آن، فهرست مراکز برتر عضو شبکه بر اساس عملکرد سال 1395 آزمایشگاههای عضو شبکه، فهرست رابطین منتخب مراکز عضو شبکه و همچنین فهرست کارشناسان منتخب مراکز عضو شبکه، اعلام گردیده است.
پراش پودری پرتو ایکس (XRPD)، روش آزمون غیرمخرب برای تعیین محدوده‌ای از ویژگی‌های شیمیایی و فیزیکی مواد محسوب می‌شود. در نوزدهمین شماره این فصلنامه، بخش اول استاندارد شماره BS EN 13925-1:2003 معرفی شده که به تعریف مفاهیم، بیان اصول اولیه و همچنین چگونگی تداخل سازنده بین پرتوهای پراکنده شده می‌پردازد.
شکل‌گیری تصاویر در میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری (TEM)، نیازمند عبور الکترون از نمونه است و برای این منظور، ضخامت نمونه باید بسیار کم باشد. نازک کردن نمونه برای این دستگاه فرایندی زمان‌بر و نیازمند دقت بالا است. این حساسیت در آماده‌سازی نمونه‌ها برای دستگاه TEM، زمانی که نمونه‌ها از نوع بافت یا سوسپانسیون زیستی باشند، از حساسیت بیشتری برخوردار است. برای تصویربرداری از نمونه‌های زیستی، بیشتر از نوعی از دستگاه TEM با قابلیت کرایو استفاده می‌شود (Cryo-TEM) که امکان تصویربرداری از این دسته از نمونه‌ها و همچنین نمونه‌هایی که به دما حساس هستند را در دمای تبرید، فراهم می‌کند. «روش‌های آماده‌سازی و تصویربرداری از نمونه‌های زیستی با استفاده از میکروسکوپ الکترونی عبوری کرایو» عنوان مقاله‌ای است که در نسخه پاییز 1396 فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران منتشر شده و این فرایند را به صورت کامل شرح داده است.
در مقاله‌ای دیگر در این نسخه از فصلنامه با عنوان «روش‌های کروماتوگرافی گازی به منظور تعیین باقی‌مانده سموم در مواد غذایی»، به کاربرد دستگاه کروماتوگرافی گازی-طیف‌سنج جرمی (GC-MS) در شناسایی کیفی و کمی ترکیبات موجود در مواد غذایی، به‌ویژه باقی‌مانده سموم پرداخته شده و از مراحل آماده‌سازی نمونه تا تهیه گزارش نهایی و همچنین شرح مختصری از معرفی دستگاه، مورد بحث قرار گرفته است.
هنگامی که با مواد شیمیایی مختلف کار می‌کنیم، امکان بروز حوادث مختلف نظیر تماس پوستی، بلع، استشمام و غیره وجود دارد. «برگه‌های اطلاعات ایمنی در آزمایشگاه به ما چه می‌گویند؟» مقاله دیگر این شماره از فصلنامه است که در مورد محتوای برگه‌های ایمنی همراه با مواد مختلف یا همان SDS بحث می‌کند و شیوه استفاده از اطلاعات آنها و مفاهیم علام و اعداد درج شده در این برگه‌ها را معرفی می‌نماید.
«معرفی میکروسکوپ مقاومتی گسترده روبشی و برخی از کاربردهای آن» چهارمین مقاله‌ای است که در نوزدهمین شماره از فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران منتشر شده است. این نوع میکروسکوپ از خانواده AFM است و به طور گسترده برای شناسایی مواد نیمه‌هادی مانند مواد سیلیکونی استفاده می‌شود. توان تفکیک در محدوده 10 تا 20 نانومتر و امکان اندازه‌گیری مقاومت موضعی، از قابلیت‌های این دستگاه است.
فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران تنها مجله تخصصی حوزه آزمایشگاهی غیرپزشکی است که به صورت کاملا اینترنتی و رایگان و در قالب‌های pdf و نسخه الکترونیکی اجرایی قابل تورق منتشر می‌شود و از طریق پایگاه اینترنتی شبکه آزمایشگاهی فناوریهای راهبردی به نشانی www.labsnet.ir و همچنین از نشانی www.IJLK.ir در دسترس علاقمندان قرار گرفته است.
