در بخش اول این مقاله، روشهای آماده‌سازی برای نمونه‌های فلزات و آلیاژها و همچنین پوشش‌های چندلایه‌ای به منظور تصویربرداری در TEM ارائه شد.
بخش دوم این مقاله، به طور اجمالی روشهای آماده‌سازی نمونه TEM سایت خاص با استفاده از فرز با پرتو یون متمرکز نیز ارائه می‌شود. آماده‌سازی نمونه شامل نازک کاری نمونه به ضخامت گذرا در برابر الکترون است که این کار موجب دیده شدن ساختارهای غیرواقعی یا آرتیفکت در نمونه می‌شود که به‌طور خلاصه مورد بحث قرار می‌گیرد.
آماده‌سازی نمونه TEM به فرآیندی گفته می‌شود که نمونه در آن به قدری نازک می‌گردد که عبور الکترون از آن امکان‌پذیر باشد. از این رو، این کار باعث ایجاد آرتیفکت‌های احتمالی می‌شود.
