آنالیز طیف سنج پراش پرتو ایکس(XRD) بر اساس قانون براگ (Bragg law) شکل گرفته است و بیشتر برای مطالعه مواد با ساختار بلوری استفاده میشود. با توجه به منحصر بهفرد بودن طیف هر ترکیب، امکان یافتن ترکیب و فرمول هر نمونه مجهول به کمک آزمون XRD امکان پذیر است طیف XRD به دست آمده، با بانک مرجع ICSD مقایسه میگردد و فرمول و ترکیب نمونه مجهول بهدست خواهد آمد. همچنین با استفاده از فرمول براگ میتوان فاصله صفحات بلوری و در نتیجه اندازه و نوع سلول واحد را نیز بهدست آورد.
نرمافزار Xpert High Score Plus از قویترین و رایج ترین نرمافزارهای تحلیل دادههای XRD در دنیا به شمار میرود.
در این کارگاه آموزشی یک روزه که از سوی آزمایشگاه بیم گستر تابان برگزار میشود، مطالب زیر آموزش داده خواهد شد:
· مبانی طیفگیری با دستگاههای XRD
· بررسی نرمافزار Xpert High Score Plus
· Profile Fitting
· Phase Identification
· Crystallite Size
این کارگاه آموزشی روز پنجشنبه پنجم اردیبهشتماه جرای از ساعت 8:30 تا 15:30 بمدت 7 ساعت و در محل آزمایشگاه بیم گستر تابان در تهران برگزار میگردد.
شایان ذکر است برای دانشجویان 50 درصد تخفیف لحاظ خواهد شد.
آزمایشگاه بیم گستر تابان از اعضای قطعی شبکه آزمایشگاهی فناوریهای راهبردی است که خدمات آزمایشگاهی متنوعی را به پژوهشگران ارایه میکند. برای مشاهده توانمندیهای این آزمایشگاه به صفحه آزمایشگاه بیم گستر تابان در پایگاه اینترنتی شبکه آزمایشگاهی فناوریهای راهبردی مراجعه نمایید.