طیف سنج مرئی-فرابنفش دانشگاه شهید بهشتی - پژوهشکده پلاسما و لیزر
سازمان مربوطه :
دانشگاه شهید بهشتی - پژوهشکده پلاسما و لیزر
نشانی آزمایشگاه :
تهران، بزرگراه چمران، اوین، میدان شهریاری، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما طبقه دوم
مشخصات طیف سنج مرئی-فرابنفش:
تاریخ بروزرسانی : ۱۴۰۳/۰۱/۲۵
نام انگلیسی :
Ultraviolet-Visible Spectrometer
آخرین وضعیت دستگاه :
آماده سرويس دهي
| موارد قابل اندازه گیری با دستگاه |
|---|
| مورد اندازه گیری شده |
واحد اندازه گیری |
دقت اندازه گیری |
| میزان بازتاب نمونه |
شدت (Count/sec) |
0.43 - 2.0 nm FWHM |
| طیف فوتولومنسانس (PL) |
شدت (Count/sec) |
0.43 - 2.0 nm FWHM |
| طیف الکترولومینسانس (EL) |
شدت (Count/sec) |
0.43 - 2.0 nm FWHM |
| شدت سنجی نوری |
شدت (Count/sec) |
0.43 - 2.0 nm FWHM |
| میزان جذب نمونه |
Absorbance |
0.43 - 2.0 nm FWHM |
| میزان عبور لایه نازک |
Transmittance(T%) |
0.43 - 2.0 nm FWHM |
| خدمات قابل ارائه با این دستگاه |
|---|
| شرح خدمت |
نحوه ارائه |
هزینه (ریال) |
| طیف سنجی UV-VIS |
توسط آزمايشگاه |
- |
| زمان سرویس دهی با این دستگاه |
|---|
| روز |
ساعت شروع |
ساعت پایان |
توضیحات |
| شنبه تا چهارشنبه |
۹:۰۰ |
۱۸:۰۰ |
- |
| متخصصین دستگاه |
|---|
| نام و نام خانوادگی |
مرتبه علمی |
تلفن |
| علی اکبر رستمی |
دانشجو |
- |
| محمد رضا صادقی قیری |
دانشجو |
- |
