دوازدهمین شماره فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران (ویژه زمستان 1394) با تلاش اعضاء و دبیران کارگروه‌های تخصصی شبکه آزمایشگاهی، منتشر شد.

دوازدهمین شماره فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران (ویژه زمستان 1394) با تلاش اعضاء و دبیران کارگروه‌های تخصصی شبکه آزمایشگاهی، منتشر شد.

در این شماره از فصلنامه گزارش برگزاری جلسه مشترک ستادهای فناوری‌ راهبردی و شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی و همچنین مصاحبه آقای دکتراسدی‌فرد، مدیر شبکه آزمایشگاهی، در مورد برگزاری چهارمین دوره نمایشگاه مواد و تجهیزات آزمایشگاهی ساخت ایران آمده‌است.

در بخش استاندارد این فصلنامه نیز، به معرفی روش آزمون استاندارد اندازه‌گیری تنش پسماند با استفاده از پراش پرتو ایکس برای فولاد بیرینگ (ASTM E2860-12) پرداخته شده‌است.

در بخش مقالات، چهار مقاله تخصصی، که توسط کارشناسان کارگروه‌های تخصصی شبکه تهیه شده، منتشر شده است که عناوین آن‌ها عبارت است از:
- بررسی تفاوت بین فیلامان‌های مورد استفاده در دستگاه‌های میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)؛
- مروری بر روش توموگرافی میکروسکوپ الکترونی عبوری؛ محدودیت‌ها و قابلیت‌ها (TEM)؛
- اصول و کاربردهای میکروسکوپی نیروی پاسخ پیزو (PFM)؛
- معرفی دستگاه کروماتوگرافی گازی - طیف‌سنج جرمی (GC-MS).


فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران به‌صورت رایگان و از طریق پایگاه اینترنتی شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی، در اختیار علاقه‌مندان قرار می‌گیرد.
برای دریافت فصلنامه اینجا کلیک کنید.
لینک ارسال مقالات:  Info@ijlk.ir
کلمات کلیدی : شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو,شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی,نانو

ارسال نظر

پاسخ به نظــر بازگشت به حالت عادی ثبت نظر

نـــام
ایمیل
نظر شما
کارکترهایی که در تصویر می بینید را وارد نمایید. (حساس به حروف کوچک و بزرگ)