به گزارش مرکز روابط عمومی و اطلاع‌رسانی معاونت علمی و فناوری ریاست جمهوری، روش‌های گوناگونی برای آشکار ساختن و شناسایی خاصیت‌های مواد زیر میکروسکوپ به کار گرفته می‌شود. الگوی پراش دوبعدی پرتو ایکس به عنوان یکی از این روش‌ها، اطلاعات بسیاری در قیاس با پراش متداول در کاربردهایی چون شناسایی فاز، اندازه‌گیری بافت و تنش نمونه آزمون، اندازه کریستالیت و درصد بلورینگی در حوزه پژوهش ارائه می‌دهد.

پراش پرتو ایکس دوبعدی، روشی ایده آل، غیر مخرب و تحلیلی برای بررسی گستره وسیعی از نمونه‌های آزمون همچون فلزات، پلیمرها، لایه‌های نازک، پوشش‌ها، رنگ‌ها، مواد زیستی، نمونه‌های پزشکی قانونی، باستان‌شناسی و غیره است.

در تاریخچه طولانی پراش پرتو ایکس پودری، جمع‌آوری و آنالیز داده‌ها به‌طور عمده بر مبنای پروفایل پراش تک‌بعدی اندازه‌گیری شده با آشکارسازهای روبشی نقطه‌ای یا حساس به موقعیت است.

در مقایسه با پراش‌سنج متداول یک بعدی، پراش‌سنج دوبعدی پراش پرتو ایکس دارای مزیتهای بسیاری است. با توجه به این حقیقت که در این نوع پراش‌سنج، پراش اندازه‌گیری شده محدود به صفحه پراش نیست و بخش بزرگی از حلقه‌های پراش مورد اندازه‌گیری قرار می‌گیرد، لذا بسیاری از جنبه‌های کاربرد پراش پرتو ایکس را بهبود می‌بخشد. آشکارساز سطحی این دستگاه شناسایی دقیق نمونه‌ها با جهت‌گیری ترجیحی، اندازه کریستال درشت و میزان اندک نمونه را ممکن می‌سازد. همچنین توزیع جهت‌گیری چندین صفحه بلوری در سراسر یک بازه زاویه‌ای به‌طور هم‌زمان اندازه‌گیری می‌شود و محاسبه اندازه کریستال، درصد بلورینگی و تنش پسماند با دقت بالاتری صورت می‌گیرد.

در سال‌های اخیر، استفاده از آشکارسازهای دوبعدی به دلیل پیشرفت‌هایی که در فناوری آشکارسازها، اپتیک پرتو ایکس نقطه‌ای و قدرت انجام محاسبات صورت گرفته، افزایش‌یافته است و این داده‌های یکپارچه منجر به‌ آمارهای بهتری برای تعیین فاز و آنالیز کمی به‌ویژه برای نمونه اندک با اندازه دانه‌درشت و دارای بافت می‌شود.

این تجهیزات جزو دستگاه‌هایی به‌شمار می‌روند که ذیل خدمات شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی معاونت علمی و فناوری و توسط مراکز عضو این شبکه ارائه می‌شوند.