میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ابزاری برای مشاهدهی نمونهها با ابعاد نانومتری و بررسی توپوگرافی سطح آنها است. در میکروسکوپهای نیروی اتمی از نیروهای ضعیف نظیر نیروهای واندروالس و مویینگی بین نوک پروب و سطح نمونه برای تشکیل تصویر توپوگرافی از سطح نمونه استفاده میشود. از این رو هیچ محدودیتی برای بررسی سطح نمونه برخلاف میکروسکوپهای تونلی روبشی وجود ندارد. میکروسکوپ نیروی اتمی قادر به تصویر برداری با تفکیک مکانی اتمی از نمونههای رسانا، نارسانا و حتی نمونههای بیولوژیکی میباشد. این میکروسکوپ نقش به سزایی در پیشرفت علوم مختلف از جمله الکترونیک، نانوفناوری و علم مواد ایفا میکند.
با هدف آشنایی کارشناسان و مدیران آزمایشگاههای ارایه دهنده خدمات آزمون با کاربردها و قابلیتهای دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی و آشنایی با نحوه آنالیز تصویر و توضیح پارامترهای مختلف،گروه ارزیابی و نظارت ستاد ویژه توسعه فناوریهای نانو و میکرو کارگاه آموزشی « مشخصه یابی نانومواد توسط میکروسکوپ نیروی اتمی » را 6 و 7 خردادماه سال جاری برگزار میکند.
از سرفصلهای این کارگاه میتوان به مقدمهای بر روشهای میکروسکوپی، معرفی میکروسکوپهای پروبی روبشی، میکروسکوپ نیروی اتمی، زیرمجموعههای میکروسکوپ نیروی اتمی، کاربرد AFM در شناسایی نانومواد، کاربرد AFM در نانوبیوسنسورها،AFM و شناسایی شیمیایی نانومواد، کاربرد AFM در بیولوژی، آمادهسازی نمونه و معرفی اجزای دستگاهی،آنالیز تصویر با نرمافزار و توضیح پارامترهای زبری و شناسایی اثرات ناخواسته، اشاره کرد.
مدیران و کارشناسان آزمایشگاههای اندازهگیری و تعیین مشخصات مواد و محصولات و کارشناسان شرکتهای تولید کننده محصولات نانویی، مخاطبین این دوره آموزشی هستند. مراکز عضو شبکه آزمایشگاهی کشور برای ثبت درخواست حمایت آموزشی و حضور در این دوره میتوانند مشخصات این کارگاه آموزشی و فهرست افراد متقاضی شرکت در کارگاه را در قالب نامه رسمی از طریق بخش درخواست حمایت (کارتابل آزمایشگاه)، به شبکه ارسال نموده و تا سقف حمایت مصوب شبکه از اعتبار آموزشی مصوب بهرهمند گردند.
شایان ذکر است ثبت نام در این کارگاه آموزشی از روز دوشنبه 29 اردیبهشتماه آغاز شده و تا تکمیل ظرفیت کارگاه، ادامه خواهد داشت.
علاقمندان میتوانند برای ثبت نام به آدرس https://eseminar.tv/wb158680 مراجعه نموده و برای کسب اطلاعات بیشتر با شماره 66120378-021 (خانم امینی) تماس بگیرند.
