صفحه اصلی

آزمون  اندازه گیری میزان کمی O و H در سیلیکون و H در ویفرهای SiN (Si-H و N-H) با روش طیف‌سنجی مادون قرمز تبدیل فوریه FTIR

آزمایشگاه همکار
  • وضعیت عضویت : توانمند
  • تهران , تهران