آزمون اندازه گیری میزان کمی O و H در سیلیکون و H در ویفرهای SiN (Si-H و N-H) با روش طیفسنجی مادون قرمز تبدیل فوریه FTIR
شناسایی مواد و عناصر
کلیه حقوق این سایت متعلق به معاونت علمی، فناوری و اقتصاد دانش بنیان ریاست جمهوری است.