کارگاه آموزش غیرحضوری «میکروسکوپ الکترونی عبوری و تحلیل داده‌های آن» از تاریخ 12 بهمن‌ماه در اختیار کاربران قرار می‌گیرد؛ این کارگاه شامل ۴ ساعت ویدیو آموزشی با سرفصل های زیر است:
مقایسه میکروسکوپ‌های الکترونی و نوری و تاریخچه میکروسکوپ الکترونی
چرا به میکروسکوپ الکترونی عبوری نیاز داریم؟
تصویرسازی و بزرگنمایی در TEM (برهمکنش الکترون با ماده و ....)
اصول کار TEM
دستگاه‌وری TEM (لنزهای الکترومغناطیسی، نحوه تشکیل باریکه الکترونی (تفنگ نشر حرارتی، تفنگ نشر میدانی و ...)، دتکتورها و ...)
عمق میدان / عمق فوکوس
مدهای TEM (تصویر و پراش)
مقدمه‌ای کوتاه بر کریستالوگرافی (بلور، سیستم‌های بلوری، شبکه براوه، اندیس میلر، صفحات بلوری، اصول پراش و ...)
مقدمه‌ای کوتاه بر شبکه وارون
پراش در TEM
آنالیز طرح پراش در TEM (مراحل اندیس‌گذاری طرح پراش، طرح‌های نقطه‌ای، طرح دایره‌ای یا رینگی، محاسبه d-spacing و ....)
تشکیل تصویر و نقش روزنه
کنتراست در TEM (کنتراست جرم - ضخامت، کنتراست پراش و ....)
تصویر میدان روشن و تصویر میدان تاریک
ساختارهای آمورف در طرح پراش
عیوب کریستالی در تصاویر TEM
نمونه‌های دارای خم‌شدگی در TEM
کانتور ضخامت
HRTEM
طرح پراش تبدیل فوریه
STEM
آماده‌سازی نمونه برای TEM (پودر، بالک فلزی، اولترامیکروتومی، رپلیکا و ....)
آزمون پایان دوره 26 بهمن‌ماه الی 6 اسفندماه و در سایت آموزش نانو به صورت آنلاین برگزار خواهد شد و شرکت‌کنندگانی که موفق به کسب نمره بالای ۵۰ درصد شوند، گواهی پایان دوره را دریافت می‌کنند. افرادی که در تاریخ ذکر شده آزمون می‌دهند، گواهی خود را اسفند ماه دریافت خواهند کرد.
گفتنی است از 12 بهمن‌ماه، اکانت دسترسی افراد ثبت‌نامی ایجاد شده و این دوره در اینجا قابل مشاهده است. برای ورود، اطلاعات به صورت زیر وارد شود: ایمیل: ایمیل ثبت‌نامی
رمز عبور: کدملی ۱۰ رقمی
میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری (TEM: Transmission electron microscope) ابزارهایی ویژه در مشخص کردن ساختار و مورفولوژی مواد محسوب می‌شوند که مطالعات ریزساختاری مواد با قدرت تفکیک بالا و بزرگنمایی خیلی زیاد را امکان‌پذیر می‌سازند؛ با استفاده از TEM قابلیت تصویربرداری مستقیم از ذرات تا اندازه یک اتم فراهم می‌شود؛ جهت تصویرسازی، ابتدا یک الگو با استفاده از پرتوهای الکترونی عبوری و/یا پراکنده شده از نمونه، که با استفاده از دریچه‌ها انتخاب می‌شوند، تهیه شده و سپس تحت تأثیر عدسی‌های مناسب برای دستیابی به تصویری با کنتراست بالا قرار می‌گیرد. فرایند انتخاب پرتو، تکنیک‌هایی مانند اندازه‌گیری‌های میدان روشن و میدان تاریک و تصویربرداری با رزولوشن بالا (HR-TEM) را از یکدیگر تفکیک می‌کند. این پارامترها در میزان وضوح تصویر و کنتراست بین ذرات و زمینه، تعداد ذرات در هر تصویر، و در نتیجه آنالیز نهایی ذرات مؤثر است. در این بین، پراش الکترون یکی از مهم‌ترین پدیده‌هایی است که در میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری و در هنگام بررسی نمونه‌های بلوری اتفاق می‌افتد، که با بررسی آن طیف وسیعی از داده‌ها در مورد ویژگی‌های ساختاری مواد نشان داده خواهد شد. از ابن‌رو می‌توان از TEM جهت مطالعات ساختارهای بلوری، تقارن، جهت‌گیری و نقائص بلوری استفاده کرد. این موارد سبب شده است که TEM امروزه به عنوان یک ابزار بسیار مهم در بسیاری از تحقیقات پیشرفته فناوری نانو، فیزیک، شیمی، بلورشناسی، علم مواد و زیست‌شناسی شناخته شود.
