این روش مبتنی بر نقشه برداری از میدان نیروی اتمی روی سطح مواد با استفاده از پروب های غیرمخرب است و امکان بررسی دقیق توپوگرافی و ایجاد تصویر سه بعدی از سطح نمونه را فراهم می کند.

یکی از مزایای اصلی میکروسکوپ نیروی اتمی انعطاف پذیری شرایط استفاده از آن است، به طوری که تصویربرداری با این روش هم درمحیط معمولی و هم در مایع با کمترین کاهش در وضوح انجام می شود. میکروسکوپ نیروی اتمی یک روش توپولوژیکی سه بعدی با وضوح اتمی بالا برای سنجش سختی سطح و همچنین نوعی میکروسکوپ پروب روبشی است و روش میدان نزدیک آن براساس تعامل بین یک پروب و اتم های سطح نمونه عمل می کند. روش های متعددی برای اصلاح پروب این میکروسکوپ وجود دارد که به بررسی ویژگی های سطحی از جمله اندازه گیری اصطکاک، نیروهای چسبندگی،خواص ویسکوالاستیک، تعیین مدول یانگ و تصویربرداری از خواص مغناطیسی یا الکترواستاتیکی کمک می کند. این روش قادر است هر نوع نمونه ای به عنوان مثال، پلیمرها، مولکول های جذب شده، فیلم ها، الیاف و پودرها را در هوا در یک محیط کنترل شده و یا در یک محیط مایع تحلیل کند. در دهه گذشته، میکروسکوپ نیروی اتمی به عنوان ابزاری قدرتمند برای دستیابی به جزئیات نانوساختاری و خواص زیست مکانیکی نمونه های زیستی مانند مولکول های زیستی و سلول ها ظهور کرده است.

 

 

میکروسکوپ نیروی اتمی برای اندازه گیری کشسانی

ارسال نظر

پاسخ به نظــر بازگشت به حالت عادی ثبت نظر

نظر شما
security code