آزمون  آنالیز شناسایی و اندازه گیری عناصر روی تمامی سطوح (۱۰ نانومتر) با روش طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس (XPS) (بجز هیدروژن و هلیم)

آزمایشگاه مرتبط تجهیزات مرتبط محصول مرتبط استاندارد مرتبط زمینه های کاربردی